A redução no tamanho dos transistores tornou possível o projeto de circuitos cada vez menores e com maior poder de processamento. Porém, com essa redução nas dimensões dos transistores, diversos efeitos indesejáveis, que antes poderiam ser desconsiderados no projeto de fabricação, começaram a tomar proporções cada vez maiores. Um dos efeitos indesejados nos circuitos é o efeito de envelhecimento, que ganha cada vez mais destaque com a redução das dimensões dos dispositivos.  Um dos principais efeitos de envelhecimento é o BTI (Bias Temperature Instability), o qual causa um aumento da tensão de limiar dos transistores, provocando uma redução na velocidade de operação do sistema, podendo assim gerar uma falha no circuito. Para minimizar os efeitos de envelhecimento é necessário considerar esse efeito no projeto do circuito. Contudo, considerar envelhecimento no projeto de circuitos pode ser uma tarefa que exige bastante tempo. Neste contexto, esse trabalho propõe o desenvolvimento de uma ferramenta que seja capaz de realizar a estimativa do efeito BTI em portas lógicas CMOS de maneira automatizada e completa ao usuário. Com a inserção no fluxo de projeto das informações geradas pela ferramenta será possível criar circuitos cada vez mais robustos em relação aos efeitos de envelhecimento.